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ACF 导电粒子检测设备


核心技术:

  • Tact Time:12颗-8.7S(检查时间)
  • 检测取像速度:120mm/s,42mm单颗 COF0.35S
  • 具备自动仿形追踪:±0.005mm
  • 具备自动裂片检功能:宽度10μm
  • 具备自动自反馈功能
  • 适用尺寸:15”-55(可按客户需求定制)


系列应用

检测效果:




设备结构:



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